技术编号：6806802
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及测试电子器件，特别涉及测试固定在引线架上的电子器件。制作电子器件(如封装后的半导体器件)的标准制作工艺过程包括最终的电气测试这一部分。过去最终的电气测试是在制作过程中将封装好的电子器件与固定数个器件的引线架分离之后进行的。鉴此，诸多的器件必须单个地处理。因为，例如，这些器件必须单个地拾起并且要与测试夹具或测试插座对准，因而单独处理每个器件增加了测试工作的复杂性。业已采用的一种比常规测试有明显改进的方法是测试仍与公共引线架连接的封装好的电子器件。因...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。