用于处理衬底的设备和方法技术资料下载

技术编号:6856848

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及半导体晶片处理,尤其涉及在减少污染物和降低晶片处理成本的同时用于更有效地在晶片表面施加和除去液体的设备和技术。背景技术 在半导体芯片制备工艺中,公知必须使用例如清洗和烘干的操作来处理晶片。在每一种这些类型的操作中,必须有效地施加和除去用于晶片操作工艺的液体。例如,在晶片表面留下了不需要的残留物的制造操作处必须进行晶片清洗。这种制造操作的例子包括等离子体蚀刻(如钨的回蚀刻(WEB))和化学机械抛光(CMP)。在CMP中,晶片放置在将晶片表面推离旋转...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。

详细技术文档下载地址↓↓

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
该分类下的技术专家--如需求助专家,请联系客服
  • 贺老师:氮化物陶瓷、光功能晶体材料及燃烧合成制备科学及工程应用
  • 杨老师:工程电磁场与磁技术,无线电能传输技术
  • 许老师:1.气动光学成像用于精确制导 2.人工智能方法用于数据处理、预测 3.故障诊断和健康管理
  • 王老师:智能控制理论及应用;机器人控制技术
  • 李老师:1.自旋电子学 2.铁磁共振、电磁场理论
  • 宁老师:1.固体物理 2.半导体照明光源光学设计实践 3.半导体器件封装实践
  • 杨老师:1.大型电力变压器内绝缘老化机理及寿命预测 2.局部放电在线监测及模式识别 3.电力设备在线监测及故障诊断 4.绝缘材料的改性技术及新型绝缘材料的研究
  • 王老师:1.无线电能传输技术 2.大功率电力电子变换及其控制技术