技术编号：6857726
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及具备扫描测试电路的半导体集成电路(以下称之为“LSI”)。背景技术 (专利文献1)特开2002-296323号公报在功能复杂的LSI中，一般使用扫描测试作为制造时的测试。如上述专利文献1中所记载的那样，扫描测试就是在设置在构成LSI的多个组合电路(电路模块)的输入侧和输出侧的触发器(以下称之为“FF”)之间预先设定被称为扫描路径的路径，在进行测试时使这些FF成串地来进行测试。通过扫描路径将测试数据串行地移位并传送到各FF中，并将其作为输入数据并行...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。