技术编号:6860868
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明描述了一种方法和装置,它用来校验具有多个功能核芯的SoC (单片系统)IC的设计完整性。并且更特别的是,对于SoC设计校验方法和装置,其中依据每个核芯的预期功能、各核芯内的定时、核芯间的接口以及SoC IC整体系统的工作,可以对设计校验进行评估。背景技术近几年来,ASIC技术已经从多芯片系统理论发展到采用嵌入核芯的单芯片系统理论。这些单芯片系统是通过使用多功能预设计模型,所谓的具有多种用途的“核芯”(也就是所知的知识产权或IP)来制成的。这些核芯通...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。