技术编号：6868637
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及电子接口连接，而且尤其涉及一种用于基本上减小信号接口模块中的电磁反射的装置和方法。背景技术 在集成电路(IC)和其他电子设备的制造中，利用自动测试设备(ATE)进行的测试将在整个工艺的一个或多个阶段处执行。IC测试系统通常包括测试头和探测卡。封装的部分测试系统通常包括测试头和被测设备(device under test)(DUT)板。探测卡和DUT板包括电探测或电连接到集成电路的各个部分的触点图案。测试头被配置成驱动探测卡或DUT板中的不同触点，...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。