技术编号：6868871
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及通过识别码来识别半导体芯片的装置，更具体地，涉及既 使用光可读识别码又使用电可读识别码来识别的半导体芯片、制造这种芯 片的方法和使用这些识别码的半导体芯片管理系统。背景技术在芯片或者晶片阶段，或者当形成集成电路的时候，为了检查是否有 缺陷存在而测试半导体器件，并且测试结果的信息作为识别码被标识在每 个芯片上。作为测试信息的码，因为信息量比较少，因此经常使用诸如条形码和标签(marking)之类的光可读识别码。与此同时，为了处理控制、后续的质量调查...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。