技术编号:6869535
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种集成电路(Integrated Circuit以下简称IC),特别指一种具有内建自我测试(built-in self-test,以下简称BIST)功能的。习知的IC晶片10如附图说明图1所示,IC晶片10包括一BIST单元12以及一电路系统14,该电路系统14可以是存储器元件以及/或者逻辑电路。BIST单元12将一测试条件16加在电路系统14上使其进行自我测试,并在测试结束后检查自电路系统14送回的回传值18,如果回传值18与预期的值不同,则...
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