技术编号：6872514
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体器件领域，尤其是一种半导体激光器大规模生产中批量老化筛选设备和筛选方法。技术方案本发明旨在提供一种高效率、高精度、高容量并具智能化判断能力的老化筛选设备，以及在此基础上的自动化程度高的老化筛选方法，以满足半导体激光器的大批量生产的需要，并达到以下目的1、大幅度提高单台设备可老化器件的数量；2、提高各被测器件的自动功率控制电路的性能，提高数据采集的精度、速度、一致性和可靠性；3、具有通过计算机进行人工读取数据和制作图表的便意性。上述目的可通过...
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