技术编号：6880635
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对6线大功率插入式元器件可 靠性进行高温老化试验和测试的插座。背景技术目前，在我国可靠性，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温 普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25'C +85°C，且老化工作时 间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、 一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，大功率插入式器 件高端技术产品...
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