技术编号：6890425
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明主要涉及一种传热装置其能使具有发热能力的待测设备的温度维持在规 定的温度。背景技术通常情况下，所有高性能电子设备在被制 造商装运之前都受到100%的功能测试。 例如，高功率微处理器设备通常受到分级测试以确定该设备的实际运行速度。在分级测试 中，将微处理器芯片的温度保持在各个规定的温度同时设备功率在预定的测试顺序中额定 功率0% 100%之间变化是很重要的。在测试中为了将芯片保持在规定的温度，设计了一熟知的设备一一温度控制单 元(TCUs)。一般来说，...
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