技术编号：6895658
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。相关申请本申请要求保护系列号为XXX的临时申请的优先权，该临时申请的题目为“用于快速测试的半导体取送机”，作者为Andreas C.Pfahnl和John D.Moore，申请日为2000年4月25日。自动测试设备通常用于测试。取送装置用于以自动方式把芯片送往自动测试系统。取送封装部件的取送装置通常被称为取送机。为全面测试芯片，通常以芯片额定运行范围内的多种温度运行测试。例如，许多芯片的测试温度在-55℃到+155℃范围内。取送机，除把芯片送往测试工作站和...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。