技术编号:6898386
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及阵列测试器,更具体地,涉及一种测试平板显示器面板上的 电缺陷的阵列测试器。背景技术平板显示器一般具有布置在上基欧与下M之间的电极.例如,薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD )面板包括TFT面板、滤光器面板、在TFT面 板与滤光器面板之间插入的液晶、以及背光。在这种情况下,该TFT面板 具有下基昧和在该下基仗上形成的薄膜晶体管。此外,该滤光器面板包括上 M以;^该上J4i上形成的、朝向TFT面板的彩色滤光器和公用电极。通过阵列检测器iM^测诸如T...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。