技术编号:6918451
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供一种改善快闪存储器可靠性(reliability)的制造方法,尤其涉及一种利用一HTO(高温氧化物)膜以降低制作快闪存储器时所产生的随机位故障(random bit failure),以提高快闪存储器可靠性的方法。背景技术 近年来,随着便携式(portable)电子产品的需求增加,快闪(flash)存储器的技术以及市场应用也日益成熟扩大。这些便携式电子产品包括数码相机的底片、手机、游戏机(video game apparatus)、个人数字助理(...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。