技术编号:6941783
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种具有熔丝结构的电子元件,尤其涉及具有熔丝结构的电子元件的 修复方法。背景技术半导体工艺技术的进展引人注目地缩小了集成电路(IC)元件的特征尺寸 (feature sizes),同时增加了元件堆叠密度(device packing density)。不幸地,当集成 电路上的集成电路元件密度及分离的元件(discrete devices)数目增加时,许多集成电路 元件的合格率会减少。分离的元件数目增加而使合格率减少的集成电路元件例如是动态随 /...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。