技术编号:6987442
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。背景技术1.发明领域本发明涉及到集成电路,特别是涉及到集成电路的测试。2.相关技术的说明集成电路的测试,特别是在高频下的测试正在日益变得更加复杂,因而费用也更大。测试设备必须不断地改进和提高以包括测试用装置的各种能力,这些测试装置通常包含有最新的技术。图1表示出包括有自动化测试设备(ATE)110的一个实例测试系统100。自动化测试设备110通过探测插件140与被测试装置(DUT)150相连接。ATE 110通常包括一组核心测试部件120,以及专用测试模块...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。