半导体基板、半导体基板的制造方法、半导体基板的判定方法以及电子器件的制作方法技术资料下载

技术编号:6987607

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本发明涉及半导体基板、半导体基板的制造方法、半导体基板的判定方法以及电子器件。背景技术特开平7-14850号公报公开了一种异质结场效应晶体管,其结构为以不掺杂GaAs 层和不掺杂InGaAs层为活性层,以一部分中添加了 Si的AWaAs层夹持活性层。特开平 10-56168号公报公开了一种场效应晶体管,该场效应晶体管的下部载流子供给层与沟道层的界面附近的电子亲和力的差大于沟道层与上部载流子供给层的界面附近的电子亲和力的差。特开平 11-354776号公报公...
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