技术编号:7003425
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明是有关于一种移动机构,且特别是有关于一种横向推移机构。 背景技术在集成电路antegrated Circuits5IC)的制作过程中,于其制程的不同阶段皆会进行产品的测试步骤,并同时利用精密的分析仪器在整个制程中作有关于品质管制的各项检验,藉以确保制程良率及晶片品质能够达到最佳水准,并检测集成电路在制造过程中所发生的瑕疵。然后,找出造成产品产生瑕疵的原因,以进一步地确保产品品质符合标准, 达到提升制程良率的目的。因此,在集成电路的制造过程中,测试实为...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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