技术编号:7017054
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及能够取得在对材料提供了激励时使其发出的光(冷光(Luminescence)),而测定材料内的载流子寿命的测定方法以及测定装置。背景技术在半导体、其他材料领域中,测定并分析来自材料的发光(冷光),来评价材料中的杂质浓度、晶体缺陷的性质、其分布,从而进行材料的分析、改善。作为得到冷光的手段,有对材料电气地注入载流子(电子、空穴)而观察所注入的电子和空穴再结合的过程的发光的电致冷光法、通过来自激光器等的光使电子激励的光致发光法。所注入的电子、所激励的电...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。