技术编号：70245
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及原子力显微镜配套用薄膜样品拉伸装置，具体涉及对其结构的改进。背景技术为了将对纳米材料和制品力学性能的测量和微观形貌的检测进行有机结合，原子力显微镜(AFM)等微纳米观察仪器要与一些力学测试装置配合使用，从而可以深入地探索各类纳米材料及制品的微观损伤断裂行为和机理，及其与载荷作用、材料结构和性能间的相关性规律。现有一种跨尺度微纳米级原位拉伸力学性能测试装置，这种装置存在以下局限性对被测试样尺寸结构限制严格；最大应变量不能满足高应变率材料，另外由于这些装置都较为复杂，包含力传感器、步进电机等等，因而制...
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