技术编号：70275
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及细胞的成像和分析领域，特别涉及一种基于原子力显微镜的单细胞/单分子实时成像与光/电分析同步综合测试仪及其制作方法。背景技术扫描隧道显微镜(STM)最早被发明并用于导体或半导体表面形貌和电学性质的研究。其原理是将尖锐的纳米金属探针针尖紧靠导体或半导体样品的表面，并在二者之间施加一电位差，通过检测隧道电流实现成像。随后发明的原子力显微镜(AFM)使得非导体材料原子尺度成像成为可能，它通过检测待测样品表面与一个微型力敏感元件(探针)之间极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。目前，通过进一步...
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