技术编号:7030899
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种具有无边界接触窗的半导体元件,至少包含一半导体基底;一氧化物层;一第一介电材料层,用以作为无边界接触窗的阻绝层;一闸氧化层与多晶硅层,用以作为半导体的闸极结构;一轻掺杂汲极;一第二介电材料层,用以作为闸极的间隔壁;一重掺杂离子植入区,用以作为半导体的源/汲极;多个金属硅化物,用以降低接触电阻;及一内层介电材料层,所述源/汲极与该浅沟槽隔离区之间蚀刻一无边界接触窗,用以连接金属层。本实用新型可节省布局面积,降低成本,且藉由浅沟槽隔离区上部两侧的氮化硅侧隙...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。