X波段低损耗高隔离度封装结构的制作方法技术资料下载

技术编号:7051636

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本发明是X波段低损耗高隔离度封装结构,包括四层陶瓷,A外部侧印地CY1、B外部侧印地CY2、内部上层地面G1、内部中层地面G2、内部底层地面G3、通孔VIA;其中第一层的底层是射频输入端口RFIN采用的微带线,第二层的顶层是射频输出端口RFOUT采用的带状线,第三层和第四层是内部腔体Q,其中第四层的顶层是焊环H;设计整体尺寸为3mm×3mm×0.8mm,采用了介电常数为9.2的陶瓷材料,在整个X波段内最大的插入损耗仅为0.21dB,隔离度大于50dB。本发...
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