技术编号:7054181
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种半导体元件(1),其包括基于CdTe的半导体材料(5)和连接该半导体元件(1)与电子构件的多个连接点(10),其中所述连接点(10)设有特殊的阻焊层(20),该阻焊层包括由至少两种具有不同的膨胀系数的金属组成的混合物AB。此外,本发明还涉及一种包括这种半导体元件(1)和可选的用于读取检测信号的评估电子器件的放射线检测器(50),以及包括这种放射线检测器(50)的医疗设备(70)。另外,本发明还涉及半导体元件(1)的制造方法,该方法包括将阻焊层...
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