技术编号:7055734
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。用于快速且准确地对硅晶片中的钝化缺陷进行绘图的方法,包括例如,当在生产线中的传送带上输送晶片时,采集光致发光(PL)图像同时移动晶片。该方法可应用于太阳能电池制造中的硅晶片的在线诊断。示例性实施例包括由单个光致发光强度图像(图)获得整个晶片钝化缺陷图像的过程,并且为工艺控制提供快速的反馈。专利说明硅光伏电池的钝化缺陷的光致发光绘图[0001] 相关申请的交叉引用[0002] 本申请要求于2013年7月3日提交的、题为"PHOTOLUMINESCENCE M...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。