一种采用存储器监测器件制程余量的方法技术资料下载

技术编号:7063851

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本发明公开了,涉及半导体领域。提供一容量为64M的存储器,所述存储器包括有16个存储单元,每个存储单元包括有4个存储量为1M的块,每个所述块内部包括有一个存储地址,每个所述存储地址与一个IO端口一一对应,所述存储器通过IO端口读入被监测器件的数据;其中,8个存储单元用于读取所述被监测器件的关键层的数据,另8个存储单元用于读取体现所示被监测器件的低工作电压良率的数据;根据存入块中数据的数量获取所述器件的制程余量。采用本方法能够实时获得key layer的制程...
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