技术编号：7097744
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及利用X射线衍射(X-ray diffraction)的。根据本发明的，由于利用X射线衍射(X-ray diffraction)，因而能够以非破坏性的方式有效地测定电极密度及孔隙率。专利说明 [0001] 本发明涉及利用X射线衍射（x-ray diffraction)的电极密度及电极孔隙率的测 定方法。 背景技术 [0002] 最近，随着信息通信产业的发展，电子设备被小型化、轻量化、薄型化及便携化，随 之，对作为这种电子设备的电源而使用的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
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