技术编号:7106859
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体薄膜制备,尤其涉及一种。背景技术氮化镓(GaN)属于第三代半导体材料,属六角纤锌矿结构,是半导体照明中发光二极管、短波长激光器、紫外探测器及高温大功率器件的核心组成部分,在工业上一般采用金属有机物化学气相沉积法(MOCVD)来进行制备。自然界缺乏天然的GaN体单晶材料,目前的工作主要在蓝宝石、SiC,Si等衬底上进行异质外延进行的。由于GaN和衬底间的晶格失配和热失配,导致异质外延GaN薄膜中具有高的位错密度,导致其应变和应力大大提高,从而...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。