技术编号:7108189
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及ー种直接转换X射线辐射检测器,特别是用于CT系统的直接转换X射线辐射检测器,其至少具有检测用的半导体材料,优选化合物半导体,以及在半导体材料和接触材料之间的至少ー个欧姆接触,其中半导体材料和接触材料分别具有载流子逸出功。背景技术闪烁探測器或直接转换半导体检测器用于检测伽玛射线和X射线辐射,特别是在CT系统和双能CT系统中。在闪烁探測器中,入射的射线通过电子激发和转化为光子而间接地探測。在此基于半导体材料例如CdTe、CdZnTe、CdZnSe和C...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。