技术编号:7130604
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试式样(test key),尤其涉及一种用于静态随机存储器(SRAM)测试桥接(bridging)与连续性(continuity)的测试式样。背景技术 在静态随机存储器的设计中,金属内连接布局具有钩状(hook shape)转角(corners)与末端(ends)是很普遍的。因此,在这些临界区域容易发生桥接与连续性的电性降低(degradation)的问题。利用传统的平行直线设计的测试式样,无法满足多钩状转角与末端的测试。测试式样的失真,不...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。