技术编号:7157566
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体集成电路制造工艺,尤其是。背景技术硅通孔(Through Si via,TSV)工艺是一种新兴的集成电路制作工艺,将制作在硅片上表面的电路通过硅通孔中填充的金属连接至硅片背面,结合三维封装工艺,使得IC布局从传统二维并排排列发展到更先进的三维堆叠,这样元件封装更为紧凑,通过缩短芯片引线距离,可以极大的提高电路的频率特性和功率特性。硅通孔工艺应用广泛,适合用作多方面器件性能提升。如将其用于无线局域网与手机中功率放大器,将极大的提高电路的频 率...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。