一种预防在双应力氮化硅工艺中光阻失效的方法技术资料下载

技术编号:7157805

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本发明涉及半导体制造领域,尤其涉及。背景技术随着半导体组件集成度越来越高,散热和量子隧道效应成为芯片小型化工艺技术的新的难题,而应变硅技术(Stain silicon)采用一种成本相对较低、可大规模应用的方法来加大硅原子间距,从而减小电子通行所受到的阻碍,即减小了电阻,器件的发热量和能耗得到一定的降低,运行速度则得以提升,而这段扩张的空间就是电子流动的空间,从而有效降低了散热问题和量子隧道效应。当集成电路特征线宽缩小到90nm以下时,人们逐渐引入了高应力氮...
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