技术编号:7157958
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路等电子元器件的辐射实验技术,更具体地涉及一种温控可充气真空辐射设备。背景技术随着航天技术、核能技术等的迅速发展,各种电子元器件越来越多地应用在不同的核辐射、空间辐射环境中。辐射环境对电子元器件造成的总剂量效应会严重影响电子设备的可靠性和使用寿命。多年来,世界主要国家均在积极开展电子元器件辐射总剂量效应以及相应加固技术的研究工作。电子元器件的总剂量效应加固水平是抗辐射电子元器件的重要指标之一。近来研究表明,电子元器件在受到辐射时所具有的温度...
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