技术编号：7161756
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及集成电路的。特别是涉及一种检测和消除集成电路中冒险的方法。是一种通过对电路定时特性的分析检测和消除冒险的方法。芯片功耗的增加不仅增大了芯片的封装成本，降低了芯片的市场竞争力，而且过大的功耗也会降低芯片的可靠性。CMOS电路的功耗主要由四部分组成功能翻转，冒险，短路电流和漏电流。在开关晶体管时，导致电源和地线之间出现瞬时的短路，从而引起短路电流功耗，这部分功耗通常非常小。漏电流功耗是由于晶体管处于静态工作状态时仍然有少量电流流过造成的。在小于.18...
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