技术编号：7168643
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本文描述的主旨涉及半导体器件，例如光电ニ极管和光电传感器。 背景技术ー些已知的成像系统包括光敏检测器，其接收例如χ射线等入射辐射来生成图像。该辐射由该检测器中的光电ニ极管接收并且转换成电荷或信号。该电荷或信号的幅度可以代表该入射辐射的衰减量并且可以用于生成图像。为了给图像提供相对高的分辨率，检测器中的光电ニ极管可需要彼此相对接近地安置。光电ニ极管可能产生不代表由个体光电ニ极管接收的辐射的电信号。这些信号称为电串扰。该串扰可以采用电子和电子空穴(例如，检测器...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。