技术编号:7170304
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及半导体工艺,特别是一种。背景技术圆片键合工艺是一种广泛的应用的半导体工艺,目前已经研发出多种圆片键合技术,如阳极键合、硅圆片直接键合、共晶键合、热压键合、玻璃焊料键合、高分子材料键合等键合技术。圆片键合技术在集成电路、微电子机械加工系统(MEMS)以及光电器件的封装中得到了广泛的应用。由于键合过程中需要对键合圆片施加一定的压力与温度,处理不当易导致裂纹,甚至是圆片破裂,降低封装成品率。发明内容本发明的目的是针对已有技术中存在的缺陷,提供一种。可以...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。