技术编号:7180137
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于半导体集成电路制造领域,尤其涉及一种利于金属填充的SDMOS接触 孔形状的形成方法。背景技术SDMOS (集成肖特基功率MOS晶体管)的肖特基二极管结构做在接触孔底部,则需 要用不同的离子注入分别在源区形成欧姆接触和在接触孔底部形成肖特基接触。具体方 法包括如下步骤(如图1所示)(1)在接触孔曝光后进行金属层间氧化物1的湿法刻蚀;进行金属层间氧化物1的干法刻蚀;(3)第一道接触孔刻蚀;(4)第一次接触孔离子注 入4 ; (5)第二道接触孔刻蚀;(...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。