技术编号：7208846
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体上涉及对半导体激光器的测试。更具体地，本发明的实施例涉及大功率光老化。背景技术通常在诸如激光二极管的光学部件的生产中利用老化过程。由于制造技术和材料上的不一致，光学部件可能具有与设计或理论寿命周期明显不同的实际寿命周期。工业标准是使光学部件在制造工厂中工作一段延长的时段，而期望那些生命周期比理想的短的光学部件在初始工作期间发生故障。因此，这些发生故障的光学部件不会从制造工厂中出厂来阻碍光学网络中的数据流。在传统的激光二极管制造的情况下，激光二极管...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。