技术编号:7212594
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种电子元件取放装置,特别是有关于一种具推顶机 构的电子元件取放装置,以改善电子元件在放置于托盘时的失效问题。背景技术半导体元件经过设计、制造后,尚须经过测试,才能确保结构与 功能可以正常运作。半导体元件测试可以分为晶圆检测与封装后的成品测试,其中晶圆检测是在晶圆切割与封装前,先以探针(Probe)测试 晶圆的线路结构是否正常,目前半导体元件测试大都使用自动测试系 统(Automatic Test Equipment, ATE)来进行测试,检测完...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。