技术编号：7220679
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于集成电路的BGA型测试座和老化座，尤其涉 及一种具有900 (30x30)或更多的间距在0.65mm或更小的连接的集 成电路的BGA型测试座和老化座，与传统的插座相比，大大增加了插 座的预期使用期限，且大大减少了生产费用，包括材料费和集成费。背景技术一般地，用于集成电路的插座被装载在测试板或老化板上。插座 连接着测量设备用来测量老化室、外围设备和集成电路的特性，因此 用在系统中测试集成电路。这样，老化室用于输入和输出电源和电信 号，这需要...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。