技术编号:7228262
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于服务于超大功率半导体列阵稳定选择同相模的外腔形变感测技术和补偿技术,涉及超大功率半导体列阵外腔锁相,涉及通过偏转适配角度的外腔镜使列阵选择同相模震荡后,对残余热效应等引起外腔形变的自动测量方式方法、自动测量系统构架,涉及补偿列阵外腔形变的补偿方式方法、补偿列阵外腔形变的补偿系统构架,涉及避免外腔形变导致非同相模起振。背景技术 半导体列阵量子效率高,输出波长范围涵盖570nm至1600nm,工作寿命可达数百万小时,叠层列阵可提供超高功率激光输出,在...
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