技术编号:7229605
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明总体涉及半导体结构及其制造方法,更具体地涉及熔丝及其制造方法,其采用熔丝元件,该元件利用现今的集成电路工作电压来电编程。背景技术 过去,动态随机存取存储器(DRAM)阵列的修理通过如下完成以冗余字线或位线替代损坏字线或位线,同时使用激光断开导电材料制成的电路熔丝。随着器件持续小型化,这些激光熔丝的相对尺寸受到采用的激光的波长限制。因此,激光熔丝的尺寸不能无穷尽地收缩。这样,由于实现熔化和避免对相邻电路破坏所需要的硅空间,更难于实现烧蚀激光熔断熔丝。而...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。