技术编号:7246652
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种工作点可变的半导体激光器,包括顺序地连接的采样光栅分布式反射器、相位偏移器、增益区域、分布式反馈激光器和半导体光放大器;温度控制装置,上述采样光栅分布式反射器、相位偏移器、增益区域、分布式反馈激光器和半导体光放大器设置在温度控制装置的上方,以便进行温度控制;输出光检测器,用于检测所述光发射装置的光输出特性;波长检测器,用于检测检测所述光发射装置的输出光的工作波长;控制器,其依据所述输出光检测器和波长检测器的检测结构对所述采样光栅分布式反射器、相位偏移器...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。