半导体器件及半导体器件的制造方法技术资料下载

技术编号:7250229

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击穿电压结构部(3)包括具有环形多晶硅场板(7)和金属场板(9b)的双重结构的场板。此外,在击穿电压结构部(3)中,多个环形保护环(4b)设置在半导体衬底(1)的前表面的表面层中。多晶硅场板(7)分开配置在保护环(4b)的内周侧以及外周侧。将内周侧和外周侧的多晶硅场板(7)相连接的多晶硅桥(8)以预定间隔设置在多个保护环(4b)中的至少一个保护环(4b),从而配置在保护环(4b)的整个圆周上。金属场板(9b)设置在击穿电压结构部(3)的角隅部(3-2)中的...
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