制造碳化硅半导体器件的方法技术资料下载

技术编号:7251339

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制备具有表面(SO)的碳化硅衬底(90)。直接在碳化硅衬底(90)的表面(SO)上形成由第一材料制成的涂覆膜(50)。在涂覆膜(50)上形成由第二材料形成的掩膜层(31)。与第二材料相比,第一材料具有与碳化硅更高的粘附性。在该掩膜层(31)中形成第一开口(P1)。借助穿过掩膜层(31)中的第一开口(P1)并且也穿过涂覆膜(50)的离子束(J1),将用于提供第一导电类型的第一杂质离子注入到碳化硅衬底(90)。专利说明[0001]本发明涉及一种,并且特别地涉及...
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