技术编号:7251552
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。提供了用于近场毫米波成像的系统和方法,具体而言,提供了通过使用子波长探针元件扫描物体并捕捉和测量反射能的相位和强度以产生图像来实现子波长分辨率成像的近场毫米波成像系统和方法。专利说明近场毫米波成像[0001]相关申请的交叉引用[0002]本申请主张2011年7月29日提交的编号为61/513,138的美国临时专利申请的优先权益,该申请的公开在此全部纳入作为参考。[0003]本发明一般地涉及提供了用于近场毫米波成像的系统和方法,具体而言,本发明涉及通过使用子...
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