技术编号：7256047
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种半导体装置，所述半导体装置包括包含有多个通孔的芯片、测试电压输入单元以及测试结果接收单元。测试电压输入单元将测试电压施加到多个通孔中的一个。测试结果接收单元接收从多个通孔中的一个或更多个中输出的输出信号。专利说明[0001]相关申请的交叉引用[0002]本申请要求2012年8月29日向韩国知识产权局提交的申请号为10-2012-0094866的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。[0003]本发明总体而言涉及一种半导体装置，更...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。