技术编号:72837
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及了基于原子力显微镜的重新定位技术即样品的一个很小的区域(如10μm×10μm)用原子力显微镜成像后,从样品架上移走,样品经过一系列处理(物理或化学)然后重新放到样品架上,通过重新定位技术依然能找到该样品原来研究过的区域,通过该项技术可以研究一个样品同一区域在物理或化学处理前后的变化。 背景技术原子力显微镜是在纳米尺度上研究物体表面形貌的一种重要工具,已广泛应用于各种纳米材料的研究。但是它有一个很大的限制当样品从原子力显微镜的样品架上取走后,然后再放上去,几乎不可能再找到原来成过像的区域。利用原子...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。