技术编号：73163
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。技术领域本发明涉及一种扫描隧道显微镜与扫描微电极联用测量技术。 背景技术1982年，国际商业机器公司(IBM)苏黎世实验室Binnig等研制成功第一台扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope，STM)，其基本原理是利用量子理论中的隧道效应，通过扫描微探针检测样品表面电子态密度分布，从而间接得到样品表面形貌。STM的出现使得人们有可能在原位、实时获得具有原子空间分辨度的表面形貌和结构，STM又进一步激发了其它各种扫描微探针显微(SPM)新技术的不断推出，并极大地推动了整个纳米科技的...
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