技术编号：7377964
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种探测内置有半导体芯片(100)的功率模块的劣化的装置，具备劣化探测处理部(10)，该劣化探测处理部根据检测半导体芯片(100)的温度而得到的温度信号(S1)中包含的交流信号与检测半导体芯片(100)的电力损耗而得到的电力损耗信号(S3)中包含的交流分量之间的传递特性，进行劣化探测处理，排除其他发热源的温度干扰的影响而可靠地探测功率模块的劣化度。专利说明功率模块的劣化探测装置 [0001] 本发明涉及探测集成半导体芯片来进行电力变换动作的功率模块的...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。