技术编号:7507140
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种,尤指一种测试电路设计内建于锁相回路电路是统中进行抖动信号的测试。背景技术 在电子相关产品效能日益提升的趋势下,电子产品中所运用的集成电路(IC)组件其电路设计也就越来越复杂,IC组件置入了更多数以万计的晶体管,IC的各项效能测试的条件难度也就越来越严格。伴随着系统单芯片(System ona chip)的推广与应用,IC测试成本占IC销售价格的百分比不断提高下,测试技术一跃成为IC效能价格比(Performance/Price)中一个重要的...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。